在物聯網，毫米波，硅光量子，人工智能，交通工具電子等技術的推動下，國度大力進展半導體產業，中國半導體行業正迎來新一輪進展機會。

而在這些個新技術在攻堅打破的同時，全行業也盡力盡量滿意對芯片更高性能、更小尺寸、更低成本等要求，這些個無一不讓在業者面對著更嚴肅的技術和市場，產業人材也需和業界令人滿意對接。芯片作為半導體行業的關鍵一環，其測試性能值當全產業深化研究討論。

全世界半導體業進展進入了中國時間，“Mole定律”盡頭靠近，但半導體產業的壟斷性卻在加劇，造成新的“不公”誕生，它并有弊于產業的正常進步提高。

反倒半導體測試領域，相對客戶的挑選反倒較少。

測試是對產品一次嚴明的用篩子選，以供給用戶品質符合標準的產品。

關緊性不言而喻。

此時，NI推出：遮蓋實驗室特點標志剖析、晶圓測試、 FT 測試以及 SLT 系統級測試的方案。

無論是預設證驗、晶圓制作、封裝過程中或是封裝完成，針對 RFIC 、混合信號芯片、甚至于最新 3DIC 和系統級封裝（ SIP ) 等不一樣測試類型和發展方向， Nl 經過一統的平臺和業界領先的攝譜儀技術助您增長測試速度、減低成本。

NI半導體測試系統：STS

NI半導體測試系統（ Semiconductor Test System ，筒稱 STS ）供給了可迅速部署到出產的測試系統，適合使用于半導體出產側試背景這個之外． PXI 平臺開放式與板塊化的預設，使您可以取得更堅強雄厚的計算有經驗及更浩博的攝譜儀咨源．進一步提高半導體測試速率，減低測試成本

NI供給的半導體測試平臺STS將會是混合信號芯片和MEMS和射頻等芯片在內的測試的最優挑選。

堅強雄厚的軟件工具用來研發、調整和部署測試手續

NI 半導體板塊可幫忙測短期工程師研發、調整、優化、部署和保護半導體測試系統。借助這款針對行業標準 Test 一 stand 背景的附帶加上板塊，半導體測短期工程師將可取得一流的測試手續研發和調整背景。?

適合使用于主流半導體制作背景

Nl STS 適合使用于主流半導體制作背景，譬如分選機（ Handler ) /探針（ prober ）集成、標準 Docking （涵蓋 Soft Dock / Hard Dock ）、彈黃探針（ Pogo Pin ）連署、 STDF 數值生產進度報表生成和系統校準，可輕松集成到出產測試設施。

企業紹介

近40年來，NI一直著力于為工程師和科學家供給解決方案來對付最嚴肅挑戰。 借助這些個解決方案，NI客戶為市場供給了數十萬種產品，克服了無數的技術瓶頸，為全人的總稱發明了更美妙的生存。 假如您能敞開、連署、驅動或開始工作某個設施，那很有可能就是基于NI技術成功實現的