電路板上各種條形洞有什么作用嗎?
準(zhǔn)確地說(shuō)這不能叫洞,專業(yè)術(shù)語(yǔ)叫孔。電路板(PCB)上的孔分為過(guò)電孔(VIA)、插件孔、安裝孔三類。過(guò)孔起導(dǎo)通、散熱的作用;插件孔是用來(lái)焊接元器件的,把元件的角插入用錫固定;安裝孔是用來(lái)打螺絲的,可以和其它部件組裝。
一般而言,過(guò)孔和插件孔為金屬化孔(PTH),就是孔壁是有金屬附著的,是可以導(dǎo)電的,而安裝孔一般為非金屬化孔(NPTH),孔壁就是基材。
這個(gè)孔是通過(guò)數(shù)控鉆機(jī)或者激光打出的,再經(jīng)過(guò)化學(xué)沉銅、電鍍銅、表面處理(常見(jiàn)噴錫和沉金,其它有防氧化、沉錫等)。
一般我們見(jiàn)到的PCB電路板有各種顏色,那個(gè)叫阻焊油墨,防止短路、還可以保護(hù)板子,起到美觀的作用。阻焊上面還會(huì)印字符,便于焊接維修時(shí)識(shí)別元件。油墨有綠色、紅色、藍(lán)色、黑色、白色等。
電路板表面有很多孔,如下圖,通常分為以下這幾種:
1,代表分離原件安裝孔
是在電路板通過(guò)一定的工藝要求安裝直插(分離)元器件。
2,代表散熱孔
這是一類用來(lái)散熱的孔,另一面是一顆CPU芯片。
3,代表過(guò)孔
這個(gè)過(guò)孔是為了線路板正反面導(dǎo)線連接之用。
4,代表安裝孔
安裝孔,顧名思義就是用來(lái)安裝固定電路板。
5,其他技術(shù)規(guī)范要求的孔
比如電源類電路板,比如有變壓器,有一些割孔或者開(kāi)槽就是為了保證技術(shù)性能要求。
確切的說(shuō)叫過(guò)孔,如果從頂層到底層,那就叫通孔,如果在中間層或者通了一半就叫盲孔。如果沒(méi)有屬性,也就是說(shuō)孔不連入電路,那一般是安裝孔或者用來(lái)配合結(jié)構(gòu),這種孔一般比較大,如果是連接到了電路里面,那一般是連接兩層電路用的,可以當(dāng)做電線,如果是很多孔排成陣列,一般是用來(lái)散熱或者適應(yīng)大電流。
PCB上的圓形空焊盤是什么?
電子工程師設(shè)計(jì)出來(lái)的PCB不僅僅需要實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品的各種功能,還要能夠?qū)崿F(xiàn)大模塊的自動(dòng)化生產(chǎn)。PCBA生產(chǎn)的過(guò)程中會(huì)有程序燒錄、ICT測(cè)試、功能測(cè)試等步驟,經(jīng)過(guò)各種測(cè)試,才能夠保證交付到消費(fèi)者手中的產(chǎn)品是合格的。程序燒錄和各種功能測(cè)試都需要測(cè)試點(diǎn)的參與。PCB上的一些圓形空焊盤就是測(cè)試點(diǎn)了。不同的工廠有著不同的生產(chǎn)方法和生產(chǎn)工藝,有些工廠會(huì)把測(cè)試點(diǎn)上了焊,也有些工廠不會(huì)對(duì)測(cè)試點(diǎn)上錫。
測(cè)試點(diǎn)其實(shí)是與線路的網(wǎng)絡(luò)相連的。比如用于程序燒錄的測(cè)試點(diǎn),它會(huì)連接到芯片的燒錄引腳。比如生產(chǎn)過(guò)程中,我們需要測(cè)試某個(gè)網(wǎng)絡(luò)的電壓,只要在該網(wǎng)絡(luò)添加一個(gè)測(cè)試點(diǎn),通過(guò)測(cè)試設(shè)備測(cè)試該點(diǎn)的電壓就可以了。如果我們?cè)赑CB的所有網(wǎng)絡(luò)都加入測(cè)試點(diǎn),就可以測(cè)試每一個(gè)網(wǎng)絡(luò)的通、斷,這樣就可以快速的測(cè)試出各種元件是否存在短路、開(kāi)路。還可以測(cè)試出是否貼錯(cuò)元件。
怎么通過(guò)測(cè)試點(diǎn)進(jìn)行測(cè)試?
在生產(chǎn)PCBA的時(shí)候,負(fù)載生產(chǎn)測(cè)試的工程師就會(huì)設(shè)計(jì)出用于該P(yáng)CBA測(cè)試的冶具,焊接好的PCBA放到該測(cè)試架上,測(cè)試架上的測(cè)試針就會(huì)連接到PCB板上的測(cè)試點(diǎn),就可以按照測(cè)試要求進(jìn)行測(cè)試了。比如測(cè)試各個(gè)位置的電壓、電流、波形等。如果要燒錄程序,測(cè)試針需要與燒錄器對(duì)應(yīng)的功能引腳相連接。測(cè)試針的尺寸是很小的,PCB的定位和測(cè)試針的放置必須比較精準(zhǔn)。為了降低測(cè)試的難度,在PCB面積允許的情況下,電子工程師設(shè)計(jì)PCB的時(shí)候可以盡量把測(cè)試點(diǎn)的面積和測(cè)試點(diǎn)的間距加大一些。